Ładuje się......
Photothermal beam deflection for non-destructive evaluation of semiconductor thin films (Thesis)
| 1. autor: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Ph.D Thesis |
| Język: | English |
| Wydane: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2010
|
| Hasła przedmiotowe: |
UL
| Sygnatura: |
535.211:539.216 ANI T |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |