טוען...
Photothermal beam deflection for non-destructive evaluation of semiconductor thin films (Thesis)
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | |
| פורמט: | Ph.D Thesis |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2010
|
| נושאים: |
UL
| סימן המיקום: |
535.211:539.216 ANI T |
|---|---|
| עותק | סטטוס עדכני לא זמין |