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Photothermal beam deflection for non-destructive evaluation of semiconductor thin films (Thesis)
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Ph.D Thesis |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2010
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| Schlagworte: |
UL
| Signatur: |
535.211:539.216 ANI T |
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| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |