Načítá se...
Photothermal beam deflection for non-destructive evaluation of semiconductor thin films (Thesis)
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Ph.D Thesis |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Kochi
Department of Physics, CUSAT
2010
|
| Témata: |
UL
| Signatura: |
535.211:539.216 ANI T |
|---|---|
| Jednotka | Neznámá aktuální dostupnost |