Lanean...

Trace analysis with nanomaterials

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Pierce, T David; ed (ed.by)
Beste egile batzuk: Zhao, Julia Xiaojun; ed .by
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Weinheim Wiley-VCH Verlag 2010
Gaiak:
Deskribapena
Deskribapen fisikoa:xxi, 396p.
ISBN:9783527323500