Nalaganje...

Mathematical models for systems reliability

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor: Epstein, Benjamin
Drugi avtorji: Weissman, Ishay
Format: Printed Book
Jezik:English
Izdano: Boca ration CRC 2008
Teme:

UL

Podrobnosti zaloge UL
Signatura: 519.718 EPS
Kopija Zaloga ni dosegljiva