Wordt geladen...

Mathematical models for systems reliability

Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Epstein, Benjamin
Andere auteurs: Weissman, Ishay
Formaat: Printed Book
Taal:English
Gepubliceerd in: Boca ration CRC 2008
Onderwerpen:

UL

Exemplaargegevens van UL
Plaatsingsnummer: 519.718 EPS
Kopie Status is onbeschikbaar