Načítá se...

Mathematical models for systems reliability

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Epstein, Benjamin
Další autoři: Weissman, Ishay
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: Boca ration CRC 2008
Témata:

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 519.718 EPS
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost