טוען...

VLSI testing and validation techniques

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Reghbati, Hassan K
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: North Holland IEEE Computer Society 1985
נושאים:
תיאור
תאור פריט:
תיאור פיזי:ix, 603 p.