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Reliability of MEMS:testing of materials and devices

Detalhes bibliográficos
Autor principal: Tabata,Osamu (ed.by)
Outros Autores: Tsuchiya, Toshiyuki
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: Weinheim Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA 2008
Assuntos:

UL

Detalhes do Exemplar UL
Área/Cota: 621.382 TAB
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