Lanean...

Reliability of MEMS:testing of materials and devices

Xehetasun bibliografikoak
Egile nagusia: Tabata,Osamu (ed.by)
Beste egile batzuk: Tsuchiya, Toshiyuki
Formatua: Printed Book
Hizkuntza:English
Argitaratua: Weinheim Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA 2008
Gaiak:

UL

Aleari buruzko argibideak UL
Sailkapena: 621.382 TAB
Alea Egoera zuzenean ez dago erabilgarri