Đang tải...
Microstructural characterization of materials
| Tác giả chính: | Brandon, David |
|---|---|
| Tác giả khác: | Kaplan, Wayine D. |
| Định dạng: | Printed Book |
| Ngôn ngữ: | English |
| Được phát hành: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| Phiên bản: | 2nd |
| Những chủ đề: |
Những quyển sách tương tự
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
Bằng: Foster, A.
Được phát hành: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
Bằng: Tsukruk,Vladimir V
Được phát hành: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
Bằng: Samori, Paolo; Editor
Được phát hành: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
Bằng: Wiesendanger, Roland; Editor
Được phát hành: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Được phát hành: (2010)