Загрузка...
Microstructural characterization of materials
| Главный автор: | Brandon, David |
|---|---|
| Другие авторы: | Kaplan, Wayine D. |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| Редактирование: | 2nd |
| Предметы: |
Схожие документы
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
по: Foster, A.
Опубликовано: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
по: Tsukruk,Vladimir V
Опубликовано: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
по: Samori, Paolo; Editor
Опубликовано: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
по: Wiesendanger, Roland; Editor
Опубликовано: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Опубликовано: (2010)