Wordt geladen...
Microstructural characterization of materials
| Hoofdauteur: | Brandon, David |
|---|---|
| Andere auteurs: | Kaplan, Wayine D. |
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| Editie: | 2nd |
| Onderwerpen: |
Gelijkaardige items
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
door: Foster, A.
Gepubliceerd in: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
door: Tsukruk,Vladimir V
Gepubliceerd in: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
door: Samori, Paolo; Editor
Gepubliceerd in: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
door: Wiesendanger, Roland; Editor
Gepubliceerd in: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Gepubliceerd in: (2010)