טוען...
Microstructural characterization of materials
| מחבר ראשי: | Brandon, David |
|---|---|
| מחברים אחרים: | Kaplan, Wayine D. |
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| מהדורה: | 2nd |
| נושאים: |
פריטים דומים
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
מאת: Foster, A.
יצא לאור: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
מאת: Tsukruk,Vladimir V
יצא לאור: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
מאת: Samori, Paolo; Editor
יצא לאור: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
מאת: Wiesendanger, Roland; Editor
יצא לאור: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
יצא לאור: (2010)