Lataa...
Microstructural characterization of materials
| Päätekijä: | Brandon, David |
|---|---|
| Muut tekijät: | Kaplan, Wayine D. |
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| Painos: | 2nd |
| Aiheet: |
Samankaltaisia teoksia
Samankaltaisia teoksia
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
Tekijä: Foster, A.
Julkaistu: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
Tekijä: Tsukruk,Vladimir V
Julkaistu: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
Tekijä: Samori, Paolo; Editor
Julkaistu: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
Tekijä: Wiesendanger, Roland; Editor
Julkaistu: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Julkaistu: (2010)