Φορτώνει......
Microstructural characterization of materials
| Κύριος συγγραφέας: | Brandon, David |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | Kaplan, Wayine D. |
| Μορφή: | Printed Book |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| Έκδοση: | 2nd |
| Θέματα: |
Παρόμοια τεκμήρια
Φορτώνει......
Scanning microscopy for nanotechnology : techniques and applications /
Έκδοση: (2007)
Έκδοση: (2007)
Παρόμοια τεκμήρια
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
ανά: Foster, A.
Έκδοση: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
ανά: Tsukruk,Vladimir V
Έκδοση: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
ανά: Samori, Paolo; Editor
Έκδοση: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
ανά: Wiesendanger, Roland; Editor
Έκδοση: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Έκδοση: (2010)