Načítá se...
Microstructural characterization of materials
| Hlavní autor: | Brandon, David |
|---|---|
| Další autoři: | Kaplan, Wayine D. |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| Vydání: | 2nd |
| Témata: |
Podobné jednotky
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
Autor: Foster, A.
Vydáno: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
Autor: Tsukruk,Vladimir V
Vydáno: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
Autor: Samori, Paolo; Editor
Vydáno: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
Autor: Wiesendanger, Roland; Editor
Vydáno: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
Vydáno: (2010)