লোডিং...
Microstructural characterization of materials
| প্রধান লেখক: | Brandon, David |
|---|---|
| অন্যান্য লেখক: | Kaplan, Wayine D. |
| বিন্যাস: | Printed Book |
| ভাষা: | English |
| প্রকাশিত: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| সংস্করন: | 2nd |
| বিষয়গুলি: |
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
অনুযায়ী: Foster, A.
প্রকাশিত: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
অনুযায়ী: Tsukruk,Vladimir V
প্রকাশিত: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
অনুযায়ী: Samori, Paolo; Editor
প্রকাশিত: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
অনুযায়ী: Wiesendanger, Roland; Editor
প্রকাশিত: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
প্রকাশিত: (2010)