تحميل...
Microstructural characterization of materials
| المؤلف الرئيسي: | Brandon, David |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | Kaplan, Wayine D. |
| التنسيق: | Printed Book |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Chichester
John Wiley & Sons
2008
|
| الطبعة: | 2nd |
| الموضوعات: |
مواد مشابهة
-
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
بواسطة: Foster, A.
منشور في: (2006) -
Scanning probe microscopy of soft matter Fundamentals and practices
بواسطة: Tsukruk,Vladimir V
منشور في: (2012) -
Scanning probe microscopies beyond imaging: manipulation of molecules and nanostructures
بواسطة: Samori, Paolo; Editor
منشور في: (2006) -
Scanning probe microscopy: analytical methods
بواسطة: Wiesendanger, Roland; Editor
منشور في: (1998) -
Scanning probe microscopy of functional materials : nanoscale imaging and spectroscopy /
منشور في: (2010)