Microstructural characterization of materials

other_versions_link
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Brandon, David
מחברים אחרים: Kaplan, Wayine D.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Chichester John Wiley & Sons 2008
מהדורה:2nd
נושאים:
Materials-Microscopy > Microstructure > Scanning probe microscophy

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 544.016.5 BRA
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים