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Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| 主要作者: | |
|---|---|
| 格式: | Printed Book |
| 语言: | English |
| 出版: |
New York
Springer
2008
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| 主题: |
UL
| 索引号: |
620.3 TEH |
|---|---|
| 复印件 | Live Status Unavailable |