Laddar...
Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
Huvudupphovsman: | |
---|---|
Materialtyp: | Printed Book |
Språk: | English |
Publicerad: |
New York
Springer
2008
|
Ämnen: |
UL
Signum: |
620.3 TEH |
---|---|
Exemplar | Status otillgänglig |