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Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| Autore principale: | |
|---|---|
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
New York
Springer
2008
|
| Soggetti: |
UL
| Collocazione: |
620.3 TEH |
|---|---|
| Copia | Status in tempo reale non disponibile |