Cargando...
Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
Autor principal: | |
---|---|
Formato: | Printed Book |
Lenguaje: | English |
Publicado: |
New York
Springer
2008
|
Materias: |
UL
Número de Clasificación: |
620.3 TEH |
---|---|
Copia | Estatus de actividad no disponible |