Loading...

Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability

Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Tehranipoor, Mohammad (ed. by)
Format: Printed Book
Sprog:English
Udgivet: New York Springer 2008
Fag:

UL

Detaljer om beholdninger fra UL
Klassifikationsnummer: 620.3 TEH
Kopi Live Status Unavailable