Načítá se...

Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability

Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Tehranipoor, Mohammad (ed. by)
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New York Springer 2008
Témata:

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura: 620.3 TEH
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost