লোডিং...

Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Tehranipoor, Mohammad (ed. by)
বিন্যাস: Printed Book
ভাষা:English
প্রকাশিত: New York Springer 2008
বিষয়গুলি:

UL

হোল্ডিংসের বিবরণ UL
ডাক সংখ্যা: 620.3 TEH
প্রতিলিপি বর্তমান অবস্থা অনুপলব্ধ