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Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
主要作者: | |
---|---|
格式: | Printed Book |
语言: | English |
出版: |
New York
Springer
2008
|
主题: |
Item Description: | |
---|---|
实物描述: | xii, 405p. |
ISBN: | 9780387747460 |
主要作者: | |
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格式: | Printed Book |
语言: | English |
出版: |
New York
Springer
2008
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主题: |
Item Description: | |
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实物描述: | xii, 405p. |
ISBN: | 9780387747460 |