Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability

書目詳細資料
主要作者: Tehranipoor, Mohammad (ed. by)
格式: Printed Book
語言:English
出版: New York Springer 2008
主題:
Nanotechnology > Quantum- dot cellular Automata
實物特徵
Item Description:
實物描述:xii, 405p.
ISBN:9780387747460

相似書籍