Загрузка...
Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York
Springer
2008
|
| Предметы: |
| Примечание: | |
|---|---|
| Объем: | xii, 405p. |
| ISBN: | 9780387747460 |