Ładuje się......
Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
New York
Springer
2008
|
| Hasła przedmiotowe: |
| Deskrypcja: | |
|---|---|
| Opis fizyczny: | xii, 405p. |
| ISBN: | 9780387747460 |