ロード中...

Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability

書誌詳細
第一著者: Tehranipoor, Mohammad (ed. by)
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: New York Springer 2008
主題:
その他の書誌記述
記述事項:
物理的記述:xii, 405p.
ISBN:9780387747460