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Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
第一著者: | |
---|---|
フォーマット: | Printed Book |
言語: | English |
出版事項: |
New York
Springer
2008
|
主題: |
記述事項: | |
---|---|
物理的記述: | xii, 405p. |
ISBN: | 9780387747460 |
第一著者: | |
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フォーマット: | Printed Book |
言語: | English |
出版事項: |
New York
Springer
2008
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主題: |
記述事項: | |
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物理的記述: | xii, 405p. |
ISBN: | 9780387747460 |