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Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| 第一著者: | |
|---|---|
| フォーマット: | Printed Book |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
New York
Springer
2008
|
| 主題: |
| 記述事項: | |
|---|---|
| 物理的記述: | xii, 405p. |
| ISBN: | 9780387747460 |
| 第一著者: | |
|---|---|
| フォーマット: | Printed Book |
| 言語: | English |
| 出版事項: |
New York
Springer
2008
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| 主題: |
| 記述事項: | |
|---|---|
| 物理的記述: | xii, 405p. |
| ISBN: | 9780387747460 |