Lataa...
Emerging nanotechnologies: test, defect tolerance and reliability
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Printed Book |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
New York
Springer
2008
|
| Aiheet: |
| Huomautukset: | |
|---|---|
| Ulkoasu: | xii, 405p. |
| ISBN: | 9780387747460 |