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Nanometer technology designs:high quality delay tests
| Autor principal: | |
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| Otros Autores: | |
| Formato: | Printed Book |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
New York
Springer
2008
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| Materias: |
UL
| Número de Clasificación: |
620.3 TEH |
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| Copia | Estatus de actividad no disponible |