Загрузка...
Nanometer technology designs:high quality delay tests
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York
Springer
2008
|
| Предметы: |
| Примечание: | |
|---|---|
| Объем: | xvii,281p. |
| ISBN: | 9780387764863 |