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Nanometer technology designs:high quality delay tests
| Autore principale: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
New York
Springer
2008
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| Soggetti: |
| Descrizione del documento: | |
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| Descrizione fisica: | xvii,281p. |
| ISBN: | 9780387764863 |