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Nanometer technology designs:high quality delay tests
| Autor Principal: | |
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| Outros autores: | |
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
New York
Springer
2008
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| Subjects: |
| descrición da copia: | |
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| Descrición Física: | xvii,281p. |
| ISBN: | 9780387764863 |