Lanean...
Nanometer technology designs:high quality delay tests
| Egile nagusia: | |
|---|---|
| Beste egile batzuk: | |
| Formatua: | Printed Book |
| Hizkuntza: | English |
| Argitaratua: |
New York
Springer
2008
|
| Gaiak: |
| Alearen deskribapena: | |
|---|---|
| Deskribapen fisikoa: | xvii,281p. |
| ISBN: | 9780387764863 |