Tehranipoor, M., & Ahmed,Nisar. (2008). Nanometer technology designs: High quality delay tests. Springer.
Chicago-stil citatTehranipoor, Mohammad, och Ahmed,Nisar. Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests. New York: Springer, 2008.
MLA-referensTehranipoor, Mohammad, och Ahmed,Nisar. Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests. Springer, 2008.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.