Tehranipoor, M., & Ahmed,Nisar. (2008). Nanometer technology designs: High quality delay tests. Springer.
Chicago-tyylinen lähdeviittausTehranipoor, Mohammad, ja Ahmed,Nisar. Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests. New York: Springer, 2008.
MLA-viiteTehranipoor, Mohammad, ja Ahmed,Nisar. Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests. Springer, 2008.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.