Tehranipoor, M., & Ahmed,Nisar. (2008). Nanometer technology designs: High quality delay tests. Springer.
Styl ChicagoTehranipoor, Mohammad, a Ahmed,Nisar. Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests. New York: Springer, 2008.
Citace podle MLATehranipoor, Mohammad, a Ahmed,Nisar. Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests. Springer, 2008.
Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..