Tehranipoor, M., & Ahmed,Nisar. (2008). Nanometer technology designs: High quality delay tests. Springer.
استشهاد بنمط شيكاغوTehranipoor, Mohammad, و Ahmed,Nisar. Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests. New York: Springer, 2008.
MLA استشهادTehranipoor, Mohammad, و Ahmed,Nisar. Nanometer Technology Designs: High Quality Delay Tests. Springer, 2008.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.