Citação norma APA

Wang, L., & Stround, C. E. T. (2008). System-on-chip test architectures: Nanometer design for testability. Morgan Kaufmann.

Citação norma Chicago

Wang, Laung-Terng, e Charles E. Touba Stround. System-on-chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability. Boston: Morgan Kaufmann, 2008.

Citação norma MLA

Wang, Laung-Terng, e Charles E. Touba Stround. System-on-chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability. Morgan Kaufmann, 2008.

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