載入...

Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents

書目詳細資料
主要作者: Foster, A.
其他作者: Hofer, W.
格式: Printed Book
語言:English
出版: New York Springer 2006
主題:

UL

持有資料詳情 UL
索引號: 620.186 FOS
復印件 Live Status Unavailable