Laddar...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Huvudupphovsman: | |
|---|---|
| Övriga upphovsmän: | |
| Materialtyp: | Printed Book |
| Språk: | English |
| Publicerad: |
New York
Springer
2006
|
| Ämnen: |
UL
| Signum: |
620.186 FOS |
|---|---|
| Exemplar | Status otillgänglig |