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Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Autor principal: | |
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| Outros Autores: | |
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
New York
Springer
2006
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| Assuntos: |
UL
| Área/Cota: |
620.186 FOS |
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| Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |