Ładuje się......
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| 1. autor: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
New York
Springer
2006
|
| Hasła przedmiotowe: |
UL
| Sygnatura: |
620.186 FOS |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |