Wordt geladen...
Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Andere auteurs: | |
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
New York
Springer
2006
|
| Onderwerpen: |
UL
| Plaatsingsnummer: |
620.186 FOS |
|---|---|
| Kopie | Status is onbeschikbaar |