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Scanning probe microscopy: atomic scale engineering by forces and currents
| Autor Principal: | |
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| Outros autores: | |
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado: |
New York
Springer
2006
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| Subjects: |
UL
| Número de Clasificación: |
620.186 FOS |
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| Copia | Live Status Unavailable |